Un equipo de investigación conjunto dirigido por Sung Dong Kim y Bong Seok Kim de la División de Tecnología Automotriz de la DGIST (presidente Kuwoo Lee) ha desarrollado una nueva tecnología de procesamiento de señales de radar que puede aumentar drásticamente la resolución de los radares de baja resolución existentes. Esta tecnología permite la detección precisa de objetos utilizando especificaciones de hardware existentes sin necesidad de expansión del ancho de banda.
Actualmente, los sistemas de radar para aplicaciones automotrices y aeroespaciales requieren tecnologías de mejora de la resolución para mejorar la precisión del reconocimiento de objetos. Lograr esto generalmente implica aumentar el ancho de banda o utilizar algoritmos de resolución ultraalta con una complejidad significativa. Sin embargo, esto resulta en un mayor costo y una mayor complejidad del sistema.
El equipo de investigación descubrió que se podría utilizar información adicional contenida en la envoltura de las señales de radar. En base a esto, desarrollaron un nuevo algoritmo que analiza las características del contorno de las señales recibidas. Esta innovadora tecnología mejora la discriminación de objetivos sin ampliar el ancho de banda, logrando casi el doble de resolución mediante el procesamiento de señales en el hardware de radar existente. Además, permite una identificación precisa de objetos tanto dentro como fuera del vehículo.
El Dr. Bong Seok Kim de la División de Tecnología Automotriz de la DGIST dijo: “Me complace que nuestro trabajo Revista de sensores IEEE … Continuaremos expandiendo esta tecnología a través de investigaciones de seguimiento para permitir su aplicación práctica en vehículos autónomos y entornos industriales”.
Mientras tanto, esta investigación fue apoyada por el Proyecto General (D-PIC 4.0) de la DGIST y el Programa de Apoyo a la Investigación Básica de la Fundación Nacional de Investigación de Corea. RESULTADOS DE LA INVESTIGACIÓN (Primer autor: Dr. Bong Seok Kim, DGIST; Autor correspondiente: Dr. Sangdong Kim, DGIST) Revista de sensores IEEE en diciembre
